雷尼紹測頭掃描原理
掃描測頭
掃描測頭(雷尼紹測頭)是微型測量儀器，每秒能夠采集幾百個表面點，可以測量形狀、尺寸和位置。掃描測頭也可用于采集離散點，與觸發式測頭類似。Renishaw提供了一系列解決方案，供各種尺寸和配置的坐標測量機選用。
SP25M測頭：具有掃描和觸發式模塊的25 mm直徑掃描測頭；
SP600測頭：高性能檢測、數字化和輪廓掃描；
SP80測頭：軸套安裝式掃描測頭，用長測針提供**的性能。
掃描原理
(雷尼紹測頭)掃描測量提供了從規則型面工件或其他復雜工件上高速采集形狀和輪廓數據的方法。
觸發式測頭可采集表面離散點，而掃描系統則可獲取大量的表面數據，提供更詳細的工件形狀信息。因此，在實際應用中如果工件形狀是整個誤差預算的重要考量因素或必須對復雜表面進行檢測，掃描測量可謂理想之選。掃描需要根本不同的傳感器設計、機器控制和數據分析方法。Renishaw掃描測頭獨具特色的輕巧無源機構（**達或鎖定機構），具有高固有頻率，適合高速掃描測量。分離的光學測量系統直接（無需通過測頭機構中的疊加軸）測量測針的變形量，以獲得更高的精度和更快的動態響應。
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